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當前位置：首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)

熒光量子效率測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。

產(chǎn)品型號：QE-2000
更新時間：2025-01-22
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：1720
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QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)

  • QE-2000瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。另采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時，運用其再激發(fā)熒光補正的優(yōu)點，可進行高精度的測量。

  • 高精度測量（zhuan.利：5150939號）：使用低雜散光光譜儀MCPD系列

  • 多次激發(fā)補正（zhuan：3287775號、4631080號）：大.程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯

  • 使用積分半球（zhuan：4216314號）：是普通積分球測試效率的2倍，更易于樣品的裝夾，更換簡單

  • 多種樣品都能對應(yīng)：粉體、溶液、薄膜、固體等等

  • 可添加溫控系統(tǒng)：-30~300℃


QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)

型號

3683C

311C

2580C

3095C

波長范圍

360-830nm

360-1100nm

250-800nm

300-950nm

像元波長寬度

1.0nm

0.5nm

1.6nm

0.8nm

1.2nm

0.6nm

1.4nm

0.7nm

像元數(shù)

512

1024

512

1024

512

1024

512

1024

CCD

電子冷卻式CCD圖像傳感器

AD轉(zhuǎn)換精度

16 bit

單色器配置

F/#=3, f=85.8mm

光源

150W氙燈

激發(fā)波長

250-800nm

帶寬

FWHM 5nm/slit 0.6mm

樣品抗光裝置

自動關(guān)閉裝置

激發(fā)波長控制

自動控制

積分球材質(zhì)

Spectralon（美國Labsphere公司zhuan.利材料名）

尺寸

150mm 半球

粉末測試樣 品座

SU304

溶液樣品池

石英制溶液比色皿


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