顯微分光膜厚儀

產(chǎn)品簡介
OPTM 系列顯微分光膜厚儀
測量項目：

? 絕.對反射率測量

? 多層膜解析

? 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

產(chǎn)品型號：OPTM 系列

更新時間：2025-01-22

廠商性質：生產(chǎn)廠家

訪問量：6389

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

OPTM 系列顯微分光膜厚儀

• 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕.對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。

• 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數(shù)的軟件。

• 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

• 通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)）

• 1點1秒高速測量

• 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外）

• 區(qū)域傳感器的安全機制

• 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析

• 獨立測量頭對應各種inline客制化需求

• 支持各種自定義

測量項目：

• 絕.對反射率測量

• 多層膜解析

• 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

OPTM 系列顯微分光膜厚儀