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PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù),通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
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光學(xué)成像系統(tǒng):
10X 遠(yuǎn)場消色差長工距顯微鏡頭
0.8X 擴(kuò)視野相機(jī)轉(zhuǎn)接鏡筒
500萬像素采集相機(jī)
LED同軸反射光源
輔助自動聚焦激光傳感器
自動運(yùn)動平臺:包括4寸,6寸和8寸Wafer載物臺夾具1套
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務(wù)熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造J6區(qū)202室
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