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當(dāng)前位置：首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微光電流成像系統(tǒng)S-LBIC光電流測試

光電流測試

產(chǎn)品簡介

光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號：S-LBIC
更新時間：2025-01-23
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：1355
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　　光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。
 
　　主要原理：
 
　　光電流測試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測試時，光源會照射在待測試樣品上，產(chǎn)生電子和空穴對并使其發(fā)生光電效應(yīng)，從而產(chǎn)生電流輸出。根據(jù)電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數(shù)。

光電流測試

光電流測試

 


 
　　主要步驟：
 
　　(1)準(zhǔn)備測試樣品：準(zhǔn)備待測試的器件或材料，并將其放置在測試臺上。
 
　　(2)設(shè)置測試條件：根據(jù)測試要求，設(shè)置光源的光強(qiáng)、波長、照射時間等測試條件。
 
　　(3)進(jìn)行測試：打開光源，照射待測試樣品，記錄測試數(shù)據(jù)。
 
　　(4)分析測試結(jié)果：根據(jù)測試數(shù)據(jù)，分析樣品的光電性能和特性參數(shù)，如響應(yīng)時間、量子效率、光電轉(zhuǎn)換效率等。
 
 
 
 
　　S-LBIC光電流測試簡介
 
　　•  寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣
 
　　•  調(diào)制法測量技術(shù)，提升測量結(jié)果信噪比
 
　　•  開機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計，維護(hù)簡單
 
　　•  監(jiān)視光路，方便樣品定位
 
　　•  全反射光路設(shè)計，優(yōu)化光斑質(zhì)量
 
　　•  高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響
 
　　•  標(biāo)準(zhǔn)測量軟件，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持第三方軟件
 
　　光電流測試應(yīng)用領(lǐng)域：
 
　　•  二維材料，太陽能電池，納米光子學(xué)，光電器件，PN結(jié)器件…
 
　　特點(diǎn)：
 
　　•  微米級空間分辨率
 
　　•  連續(xù)/脈沖激光可選
 
　　•  波長連續(xù)可調(diào)的超連續(xù)譜光源可選
 
　　•  nA、pA、fA不同精度的源表可選
 
　　•  可以測量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應(yīng)度
 
S-LBIC顯微光電流成像系統(tǒng)
 　　主要應(yīng)用：
 
　　(1)半導(dǎo)體器件測試：光電流測試主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。
 
　　(2)光電器件測試：該測試方法還可以用于光電器件的測試和分析，如太陽能電池、光伏發(fā)電系統(tǒng)等。
 
　　(3)材料研究：光電流測試還可以應(yīng)用于材料的研究，如光敏材料、半導(dǎo)體材料等的光電性能測試。

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