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PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元,可從-110°C進行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
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殺菌效果*1
峰值波長,半高寬
基于總光通量測量系統(tǒng)的測量項目
總光通量、三刺激值XYZ、色度坐標xy、uv 、u’v’相關(guān)色溫、Duv、主波長、刺激純度顯色指數(shù)、等色標準偏差
光子量、外量子效率、發(fā)光效率* 根據(jù)紫外線輻射傷害作用函數(shù)計算
* 1:參考值。根據(jù)使用 220-850 nm 檢測器的 A 光源測量結(jié)果估算
* 2:參考值。從 250-400 nm 測量中估計的帶有 220-850 nm 檢測器的 A 光源
* 3:可作為選項支持的項目
* 4:對于可選產(chǎn)品,請參閱總光通量測量系統(tǒng)的規(guī)格頁面。
探測器、光纖和積分球的配置,包括數(shù)據(jù)處理單元。
樣品的可選溫度控制溫度表征也是可能的。
這是測量深紫外 LED(峰值波長 280 nm)的示例。
通過使用高靈敏度檢測器,可以以良好的重現(xiàn)性測量峰值波長。
也可以在沒有噪聲成分的情況下評估波形。
此外,
還可以結(jié)合紫外線輻射損傷作用函數(shù)來計算LED 的殺菌效果。
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