反射譜成像技術

產(chǎn)品簡介
iSR是一種微光斑測試技術，用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-01-23

廠商性質：生產(chǎn)廠家

訪問量：235

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

和常規(guī)的相比使用C-T結構的中階梯光譜儀有何特殊之處

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Capability:

最小0.1μm光斑尺寸進行監(jiān)控
波數(shù)測試范圍從20到100cm^-1
橢偏和iSR同步測試，可以獲得二維高分辨厚度圖譜

反射譜成像技術

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：光譜型橢偏儀